Важнейшие конструктивные узлы аналитических установок

Эксперимент по проведению анализа поверхности любым из методов атомной физики условно можно разделить на следующие стадии.

  • 1. Формирование какого-либо воздействия на поверхность (электронных, ионных, атомных, молекулярных пучков; пучков фотонов, в том числе рентгеновских; приложение к поверхности электростатического поля, нагрев поверхности).
  • 2. Осуществление воздействия (включение облучения, нагрева, подача напряжения и т. д.).
  • 3. Анализ отклика поверхности на фактор воздействия, то есть анализ характеристик вторичных или псрсизлучснных (отраженных) электронных, ионных, атомных потоков или потоков квантов излучения.

Необходимость применения техники высокого и сверхвысокого вакуума (СВВ), низких температур, особых условий приготовления образцов делают диагностику поверхности занятием кропотливым, трудоемким, интересным и дорогостоящим.

Можно условно выделить 5 важнейших инструментальных групп, необходимых для осуществления эксперимента по диагностике поверхности:

  • 1) источники воздействия (электронные и ионные пушки или ускорители; источники рентгеновских, ультрафиолетовых и других квантов; нагреватели);
  • 2) анализаторы (энергетические, массовые, угловые);
  • 3) детекторы заряженных частиц и электромагнитного излучения;
  • 4) отдельно укажем также электронно- и ионно-оптические приборы, входящие в состав первых двух групп;
  • 5) электронные приборы, обеспечивающие работу всех узлов, расположенных в вакууме.

Остановимся кратко на принципе действия и устройстве важнейших приборов из указанных инструментальных групп.

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ   ОРИГИНАЛ     След >