Меню
Главная
Авторизация/Регистрация
 
Главная arrow Техника arrow АКУСТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ
Посмотреть оригинал

Методы прохождения

Методы прохождения основаны на возбуждении в изделии упругой волны и анализе свойств волн, прошедших через ОК. Методы прохождения предполагают наличие двух преобразователей — излучающего и приемного, расположенных по разные стороны от О К или контролируемого его участка. В некоторых случаях преобразователи размещают с одной стороны от ОК на определенном расстоянии друг от друга. Информацию получают, измеряя параметры прошедшего от излучателя к приемнику сквозного сигнала. К этой подгруппе относят следующие методы: амплитудный теневой, временной теневой и велосиметрический.

Амплитудный теневой метод

Теневой метод основан на регистрации уменьшения амплитуды прошедшей волны (так называемого сквозного сигнала) под влиянием дефекта, затрудняющего прохождение сигнала и создающего звуковую тень. Функциональная схема метода приведена на рис. 1.3.

Акустические колебания вводятся в контролируемое изделие при помощи элекроакустического преобразователя 1. Прошедшие через изделие акустические сигналы поступают на приемный преобразователь 2, расположенный с противоположной стороны изделия симметрично излучающему преобразователю. Далее сигнал подается на вход приемника-анализатора, фиксирующего амплитуду прошедшего сигнала.

Функциональная схема амплитудного теневого метод для изделия без дефекта (а) и с дефектом (б)

Рис. 1.3. Функциональная схема амплитудного теневого метод для изделия без дефекта (а) и с дефектом (б):

1 — электроакустический преобразователь; 2 — приемный преобразователь; 3 — дефект

О Информативный параметр метода — амплитуда прошедшего сигнала. Режим излучения непрерывный. Способ получения информации пьезоэлектрический.

Изображение на экране дефектоскопа показано на рис. 1.4 как при наличии дефекта, так и при его отсутствии.

Вид экрана дефектоскопа для изделия без дефекта (а) и с дефектом (б) при контроле амплитудным теневым методом

Рис. 1.4. Вид экрана дефектоскопа для изделия без дефекта (а) и с дефектом (б) при контроле амплитудным теневым методом

При отсутствии нарушений сплошности материала приемный преобразователь регистрирует амплитуду прошедшего (донного) сигнала (рис. 1.4, а). Интенсивность прошедших волн меньше интенсивности волн, введенных в изделие, т. к. при распространении их в материале ОК наблюдаются потери энергии УЗК в результате затухания и геометрического расхождения пучка. При постоянной толщине изделия, заданной степени шероховатости и параллельности верхней и нижней поверхностей изделия амплитуда прошедшей волны во время контроля изменяется в небольших пределах. Вдефектном изделии амплитуда прошедшего си гнала уменьшается (рис. 1.4,6), т. к. за дефектом образуется акустическая тень.

Теневой метод применяют в основном для контроля проката малой и средней толщины, некоторых резиновых изделий, для исследования упругих свойств стеклопластиков, бетона, графита и т. д. Теневой метод имеет высокую помехоустойчивость и слабую зависимость амплитуды сигнала от угла ориентации дефекта. Однако имеются серьезные недостатки: необходимость двустороннего доступа и малая точность оценки координат дефекта.

 
Посмотреть оригинал
Если Вы заметили ошибку в тексте выделите слово и нажмите Shift + Enter
< Предыдущая   СОДЕРЖАНИЕ   Следующая >
 

Популярные страницы