Рентгеноструктурный анализ твердых растворов галогенидов металлов, полученных методом ТЗКС

Для подтверждения образования твердых растворов галогенидов серебра как в шихте, полученной методом ТЗКС (см. гл. 4), так и в выращенных кристаллах, был использован рентгеноструктурный анализ.

На полученных рентгенограммах пики для AgCl и AgBr совпали с разрешеннымирефлексами для решетки типа NaCI, что подтверждает кристаллографическую структуру этих веществ и говорит об однофазности образцов. Были проведены сравнения с картотекой JCPDS-ICDD Copyright 1995 для AgCl и AgBr, что дало хорошее совпадение углов 20.

Параметр элементарной ячейки определяли по рефлексу с индексом 420. Для AgBr = 5,771 А, (5,7745 А, по данным [2, 3]), для AgCl = 5,546 А, (5,5491 А, по данным [2, 3]). Результаты проведенных исследований говорят о хорошей сходимости эксперимента со справочными данными (табл. 3.6) [9].

Os

Таблица 3.6

Кристаллографические данные для AgCl и AgBr, полученных методом ТЗКС

AgCl

№ линии

20 Д= 1,54056 А,

20 Д= 1,54056 А,

Ш

а, А

экспериментальные

данные картотеки

экспериментальные

экспериментальные

значения

JC'PDS-ICDD [9]

значения

значения

1

27,850

27,83

111

3,200

5,543

2

32,250

32,24

200

2,773

5,546

3

46,249

46,23

220

1,961

5,547

4

54,850

54,82

311

1,672

5,546

5

57,500

57,50

222

1,601

5.547

6

67,449

67,50

400

1,387

5,549

7

74,500

74,50

331

1,272

5,547

8

76,800

76,80

420

1,240

5,546

AgBr

1

26,799

26,725

111

3,323

5,757

2

31,000

30,960

200

2,882

5,764

3

44,400

44,346

220

2,038

5,766

4

52,599

52,486

311

1,738

5,766

5

55,100

55,042

222

1,665

5,769

6

64,600

64,476

400

1,441

5,766

7

73,320

73,261

420

1,290

5,771

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ   ОРИГИНАЛ     След >