Рентгеноструктурный анализ кристаллов твердых растворов галогенидов металлов

Кристаллы AgCl и AgBr обладают неограниченной взаимной растворимостью как в жидком, так и в твердом агрегатном состоянии. Поэтому на дифрактограмме твердого раствора состава точки минимума AgCl()2.Br0 75 (рис. 3.7), где растворенным веществом является AgCl, исчезают линии AgCl, и остаются с некоторым смещением в сторону больших углов линии, соответствующие AgBr. Было проведено индицирование рефлексов в соответствие с дифрактограммой AgBr. Правильность такого индицирования подтвердилась расчетом периода решетки для AgCl()25Br0 75 - разброс в значениях для каждого из семи пиков составлял менее 0,1 % (см. табл. 3.7). Период решетки для AgCl0 25Br0 75 составил 5,711 А (по рефлексу с индексами hkl 420). Пики на рентгенограмме острые, высокие и тонкие, что говорит о хорошей однородности периода кристаллической решетки твердого раствора. О том, что это твердый раствор, говорит наличие пиков, присущих только чистому AgBr, и отсутствие пиков других фаз.

Аналогичным образом была изучена рентгенограмма для кристаллов состава Ago9!iTl()02Cl02nBr0 7SI0()2 (рис. 3.7, табл. 3.8). Рефлексы на этой дифрактограмме укладываются в область разрешенных рефлексов для решетки типа NaCl, что говорит о наличии только одной фазы.

При сравнении межплоскостных расстояний твердого раствора Ag09STl002Cl0 20Br0 78I(102 с межплоскостными расстояниями ТП, взятыми из справочника [10] (табл. 3.3), следует, что фаза T1I отсутствует, т. к. не наблюдается совпадений межплоскостных расстояний dIM. Период решетки для Ag0 9ST1002C10 20Вг0 781002 составил 5,767 А (по рефлексу с индексами hkl 420), что несколько больше, чем для AgCl0 25Br075 (табл. 3.7). Это объясняется несколько большим содержанием брома, чем в указанном твердом растворе, соответствующем точке минимума, а также наличием небольшого количества ТП, который увеличивает период решетки. Пики на рентгенограмме острые, высокие и тонкие, что говорит о хорошей однородности по периоду кристаллической решетки полученного твердого раствора.

Экспериментальные кристаллографические данные для твердого растворасостава точки минимумаЛ”С1(| 2.Вгп 75

Таблица 3.7

№ линии

20AgClO 25Bro „, X = 1,54056 А,

Ш

а, А

1

27,051

111

3,294

5,705

2

31,300

200

2,855

5,711

3

44,900

220

2,017

5,705

4

53,150

311

1,722

5,711

5

55,750

222

1,647

5,707

6

65,300

400

1,428

5,711

7

74,200

420

1,277

5,711

Экспериментальные кристаллографические данные для твердого раствора Ag0,8Tl0 02Cl020Br0 7810()2

Таблица 3.8

№ линии

Углы 20, при Х= 1,54178 А,

hkl

а, А

1

26,7726

111

3,329

5,767

2

31,0110

200

2,883

5,767

3

44,4274

220

2,039

5,767

4

52,6315

311

1,739

5,767

5

55,1656

222

1,665

5,767

6

64,6419

400

1,442

5,767

7

73,4206

420

1,289

5,767

8

81,8125

422

1,177

5,767

9

98,2475

440

1,019

5,767

10

106,6410

600

0,961

5,767

Дифрактограммы твердых растворов галогенидов серебра, полученных методом ТЗКС

Рис. 3.7. Дифрактограммы твердых растворов галогенидов серебра, полученных методом ТЗКС

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ   ОРИГИНАЛ     След >